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2026

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CMOS芯片共面度不良，白光干涉解決對焦偏移、景深不足問題

引言CMOS芯片作為半導體器件的核心組成部分，共面度精度直接決定封裝可靠性與信號傳輸穩定性，共面度不良會導致芯片與基板貼合不嚴、引腳接觸不良，進而引發電路故障。當...

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2026

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05

鏡筒定位面平面度不良引發鏡片畸變的白光干涉測量

摘要鏡筒定位面平面度不良是誘發光學鏡片畸變的主要誘因，鏡片畸變會嚴重破壞光學系統成像精度。白光干涉測量技術具備非接觸、納米級精度優勢，可精準表征定位面平面度缺陷與...

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2026

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05

噴油器錐度偏差致油霧/油束異常，深孔錐度精密檢測方案

引言噴油器作為發動機燃油供給系統的核心執行部件，其深孔錐度的加工精度直接決定燃油霧化質量與油束形態，進而影響發動機燃燒充分性、動力性能及尾氣排放。當前，噴油器深孔...

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2026

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05

銅箔越粗糙，界面熱阻越大｜激光顯微鏡 VS 白光干涉儀

引言銅箔作為電子設備、新能源電池等領域的核心導熱基材，其表面粗糙度直接影響界面熱傳導效率，界面熱阻隨粗糙度增加而升高的規律已成為行業共識。界面熱阻的升高會導致設備...

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