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        新啟航半導(dǎo)體有限公司


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        2026
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        盤(pán)片熱處理形變導(dǎo)致平面度超標(biāo)(Flatness Overli...
        機(jī)械硬盤(pán)(Hard Disk Drive, HDD)超薄精密金屬盤(pán)片的熱處理(Heat Treatment)工序,用于釋放基材殘余應(yīng)力、穩(wěn)定盤(pán)面形貌精度,是硬盤(pán)精...
        盤(pán)片熱處理形變導(dǎo)致平面度超標(biāo)(Flatness Overlimit),光學(xué)輪廓儀鎖定機(jī)械硬盤(pán)熱加工工藝異常
        17
        2026
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        白光干涉儀(White Light Interferomet...
        摘要超薄薄膜(Ultra?thin Film)是半導(dǎo)體晶圓(Wafer)、微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)器件、鈣鈦礦光電器件的核心功能性薄膜材料。其磁控濺射(Magnet...
        白光干涉儀(White Light Interferometer, WLI)全域成像技術(shù)對(duì)超薄薄膜(Ultra-thin Film) 批量制備工藝異常的識(shí)別與分析
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        2026
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        光學(xué)輪廓儀采集機(jī)械硬盤(pán)結(jié)合面平面度數(shù)據(jù)(Joint Surf...
        機(jī)械硬盤(pán)(Hard Disk Drive, HDD)殼體結(jié)合面密封適配精度,直接決定設(shè)備防塵、防漏氣性能,是保障硬盤(pán)存儲(chǔ)運(yùn)行穩(wěn)定的核心工藝指標(biāo),結(jié)合面平面度(Fl...
        光學(xué)輪廓儀采集機(jī)械硬盤(pán)結(jié)合面平面度數(shù)據(jù)(Joint Surface Flatness Data),精準(zhǔn)研判密封適配工藝異常
        14
        2026
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        超薄薄膜(Ultra-thin Film)工藝畸變與微觀缺陷...
        超薄薄膜(Ultra-thin Film)廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓(Wafer)、鈣鈦礦光伏、微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)等核心工業(yè)領(lǐng)域。薄膜經(jīng)濺射(Sputtering)...
        超薄薄膜(Ultra-thin Film)工藝畸變與微觀缺陷檢測(cè),基于白光干涉儀(White Light Interferometer, WLI) 高精度表征方法
        • 共104頁(yè)
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