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          新啟航半導體有限公司


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          07
          2026
          -
          08
          超光滑樣品(Ultra-smooth Sample)工藝畸變...
          摘要超光滑樣品廣泛應用于精密光學元件、半導體晶圓(Wafer)、微機電系統(tǒng)(MEMS)器件、鈣鈦礦功能薄膜等高端制造領域。樣品在拋光、鍍膜、轉(zhuǎn)運制程中,易產(chǎn)生全域...
          超光滑樣品(Ultra-smooth Sample)工藝畸變與微觀缺陷檢測:基于白光干涉儀(White Light Interferometer, WLI) 高精度表征方法
          06
          2026
          -
          08
          光學鏡片微觀形貌缺陷頻發(fā),白光干涉儀全維度把控鏡頭量產(chǎn)品
          光學鏡片(Optical Lens)量產(chǎn)加工過程中,受超精研磨、拋光工藝誤差、工裝夾持應力、環(huán)境粉塵及清洗工藝影響,極易產(chǎn)生各類微觀形貌缺陷。常見缺陷包含微觀劃痕...
          光學鏡片微觀形貌缺陷頻發(fā),白光干涉儀全維度把控鏡頭量產(chǎn)品
          06
          2026
          -
          08
          光學輪廓測量在核電級硬密封閥門平面度檢測中的應用
          核電級硬密封閥門(Nuclear-grade Hard-seal Valve)是核電管路系統(tǒng)核心承壓密封構(gòu)件,其密封面平面度(Flatness)直接影響機組高低壓...
          光學輪廓測量在核電級硬密封閥門平面度檢測中的應用
          06
          2026
          -
          08
          白光干涉儀(White Light Interferomet...
          摘要超光滑樣品(Ultra-smooth Sample)是半導體晶圓、精密光學基底、微機電系統(tǒng)(MEMS)基底等高端制造領域的核心基材,其拋光、化學機械拋光(Ch...
          白光干涉儀(White Light Interferometer, WLI)形貌測量技術在超光滑樣品(Ultra-smooth Sample) 加工工藝優(yōu)化中的異常分析應用
          • 共100頁
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