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      07
      2026
      -
      08
      超光滑樣品(Ultra-smooth Sample)工藝畸變...
      摘要超光滑樣品廣泛應用于精密光學元件、半導體晶圓(Wafer)、微機電系統(MEMS)器件、鈣鈦礦功能薄膜等高端制造領域。樣品在拋光、鍍膜、轉運制程中,易產生全域...
      超光滑樣品(Ultra-smooth Sample)工藝畸變與微觀缺陷檢測:基于白光干涉儀(White Light Interferometer, WLI) 高精度表征方法
      06
      2026
      -
      08
      光學鏡片微觀形貌缺陷頻發,白光干涉儀全維度把控鏡頭量產品
      光學鏡片(Optical Lens)量產加工過程中,受超精研磨、拋光工藝誤差、工裝夾持應力、環境粉塵及清洗工藝影響,極易產生各類微觀形貌缺陷。常見缺陷包含微觀劃痕...
      光學鏡片微觀形貌缺陷頻發,白光干涉儀全維度把控鏡頭量產品
      06
      2026
      -
      08
      光學輪廓測量在核電級硬密封閥門平面度檢測中的應用
      核電級硬密封閥門(Nuclear-grade Hard-seal Valve)是核電管路系統核心承壓密封構件,其密封面平面度(Flatness)直接影響機組高低壓...
      光學輪廓測量在核電級硬密封閥門平面度檢測中的應用
      06
      2026
      -
      08
      白光干涉儀(White Light Interferomet...
      摘要超光滑樣品(Ultra-smooth Sample)是半導體晶圓、精密光學基底、微機電系統(MEMS)基底等高端制造領域的核心基材,其拋光、化學機械拋光(Ch...
      白光干涉儀(White Light Interferometer, WLI)形貌測量技術在超光滑樣品(Ultra-smooth Sample) 加工工藝優化中的異常分析應用
      • 共100頁
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