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        新啟航半導(dǎo)體有限公司


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        2026
        -
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        干法 / 濕法刻蝕后(After Dry/Wet Etchi...
        摘要干法刻蝕(Dry Etching)、濕法刻蝕(Wet Etching)是半導(dǎo)體晶圓(Wafer)加工核心工藝,刻蝕工序會改變晶圓襯底微觀形貌,而晶圓表面粗糙度...
        干法 / 濕法刻蝕后(After Dry/Wet Etching),采用白光干涉儀測量晶圓表面粗糙度
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        2026
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        骨植入體 端面平面度形變白光干涉儀強化貼合穩(wěn)定性
        骨植入體(Bone Implant)的端面平面度(End Face Flatness)是影響植入體與骨組織、配套假體貼合精度的關(guān)鍵形位指標。在精密切削、拋光、熱處...
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        2026
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        盤片熱處理形變導(dǎo)致平面度超標(Flatness Overli...
        機械硬盤(Hard Disk Drive, HDD)超薄精密金屬盤片的熱處理(Heat Treatment)工序,用于釋放基材殘余應(yīng)力、穩(wěn)定盤面形貌精度,是硬盤精...
        盤片熱處理形變導(dǎo)致平面度超標(Flatness Overlimit),光學(xué)輪廓儀鎖定機械硬盤熱加工工藝異常
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        2026
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        白光干涉儀(White Light Interferomet...
        摘要超薄薄膜(Ultra?thin Film)是半導(dǎo)體晶圓(Wafer)、微機電系統(tǒng)(MEMS)器件、鈣鈦礦光電器件的核心功能性薄膜材料。其磁控濺射(Magnet...
        白光干涉儀(White Light Interferometer, WLI)全域成像技術(shù)對超薄薄膜(Ultra-thin Film) 批量制備工藝異常的識別與分析
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